5.2 抗冻结、融化性

5.2.1 设备
    ——冷冻室；能达到5.2.2 b）的温度要求；    
    ——磨口凝点测定管；
    ——半导体凝点测定器：控温精度±1℃；
    ——凝点用温度计：分度值1℃。
5.2.2 试验步骤
    a）按5.2.3测定样品的凝固点。
    b）将冷冻室温度调到低于样品凝固点10℃±1℃。
    c）将符合5.1.1要求的样品装入塑料或玻璃容器，密封放入冷冻室，在b）规定的温度下保持24 h，冷冻结束后，取出样品，在20℃±5℃的室温下放置24 h～96 h。再重复三次，进行四个冻结融化周期处理。
    d）观察样品有无分层和非均相现象。
5.2.3 凝固点
    a）开动半导体凝点测定器，使冷阱的温度稳定在－25℃～－30℃（或低于试样凝固点10℃）。把凝点测定管的外管装入冷阱中。外管浸入冷阱的深度不应少于100mm。
    b）在干燥、洁净的凝点测定管的内管中注入待测泡沫液样品，管内液面高度约为50mm。
    c）用软木塞或胶塞把凝点用温度计固定在内管中央，温度计的毛细管下端应浸入液面3mm～5mm。
    d）把凝点测定管内管装入外管中。
    e）当内管中样品的温度降至0℃时开始观察样品的流动情况，以后每降低1℃观察一次。每次观察的方法是把内管从外管中取出并立即将其倾斜，如样品尚有流动则立即放回外管中（每次操作时间不应超过3s），继续降温做下一次观察。当样品温度降至某一温度，取出内管，观察到样品不流动时，立即使内管处于水平方向，如样品在5s内仍无任何流动，则记录温度。此温度即为样品的凝固点。
    f）每个样品做两次试验，两次试验结果的差值不应超过1℃，取较高的值作为试验结果。如两次试验结果的差值超过1℃，则应进行第三次试验。